Semiconductor Interface Analysis and Engineering Lab

반도체 계면 분석 및 응용 연구실

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투과전자현미경은 일차원 나노와이어, 이차원 필름, 삼차원 벌크 등 나노스케일 물질들의 결정구조 및 화학적 결합상태를 밝히는데 필수적인 분석방법이다. 반도체 소재·부품 대학원에 속한 우리 연구그룹은 구면수차가 보정된 최첨단의 투과전자현미경들을 이용하여 다양한 반도체 소재 및 소자들의 기초현상들을 관찰하는 연구를 수행하고 있다.
Transmission electron microscopy (TEM) is vital for unveiling the crystal structure and chemical states of nanoscale materials such as 1 dimensional(D) nanowires, 2D thin layers, and 3D bulk materials. Our group at Graduate School of Semiconductor Materials and Devices Engineering is performing active research about revealing fundamental nature of various semiconductor materials and devices using a spherical aberration corrected TEM.

Major research field

2차원 소재기반 멤리스터, 반도체 계면 원자수준 분석, 실시간 전압인가 투과전자현미경, 강유전체 메모리 소재

Desired field of research

2차원 소재기반 멤리스터, 반도체 계면 원자수준 분석, 실시간 전압인가 투과전자현미경, 강유전체 메모리 소재

Research Keywords and Topics

• 다양한 반도체 메모리 소자의 동작 메커니즘을 규명하기 위한 in situ 전압인가 TEM 실험 (I-V & C-V & A-C 측정)
- in situ 전압인가 TEM 실험을 위한 최적화된 MEMS 칩 개발
- 단면 in situ 전압인가 시편 제작을 위한 최적화된 방법 개발
- 2차원 박막 기반 멤리스터의 저항 스위칭 메커니즘 규명
- 하프늄 산화물 기반 강유전 소자의 상변화를 실시간으로 분석
• 집속 이온빔(FIB) 및 구면수차 보정(Cs-corrected) (S)TEM 기술을 활용한 다양한 소재 간 계면 분석 및 응용
• 금속 황화/셀레늄화 공정을 이용한 2차원 전이금속 칼코겐 화합물 기반 멤리스터 소자 개발

Research Publications
MORE

· Jieun Yang, Abdul Rahman Mohmad, Yan Wang, Raymond Fullon, Xiuju Song, Fang Zhao, Ibrahim Bozkurt, Mathias Augustin, Elton J. G. Santos, Hyeon Suk Shin, Wenjing Zhang, Damien Voiry, Hu Young Jeong* and Manish Chhowalla*, “Ultrahigh-current-density niobium disulfide catalysts for hydrogen evolution”, Nat. Mater. 18, 1309 (2019)
· Javeed Mahmood, Feng Li, Sun-Min Jung, Mahmut Sait Okyay, Ishfaq Ahmad, Seok-Jin Kim, Noejung Park*, Hu Young Jeong*, and Jong-Beom Baek*, “An efficient and pH-universal ruthenium-based catalyst for the hydrogen evolution reaction”, Nat. Nanotech. 12, 441-447 (2017)
· Insung Choi, Hu Young Jeong (equally contributed), Hyeyoung Shin, Gyeongwon Kang, Myunghwan Byun, Hyungjun Kim, Adrian M. Chitu, James S. Im, Rodney S. Ruoff, Sung-Yool Choi*, and Keon Jae Lee*, “Laer-induced phase separation of silicon carbide”, Nat. Commun. 7, 13562 (2016)

Patents

· Quantum dot with metastable phase and manufacturing method for the same, keonjae Lee, Duk Young Jeon, Hu Young Jeong, Tae Hong Im, Chulhee Lee, 등록번호 US20200190403A1 (2020. 06, 18)
· 이원소성 화합물의 상분리 현상을 이용한 실리신 제조방법, 이에 의하여 제조된 실리신, 최성율, 이건재, 최인성, 정후영, 등록번호 10-1685149 (2016. 12. 05)

국가과학기술표준분류

  • EB. 재료
  • EB07. 분석·물성평가기술
  • EB0702. 재료구조/조직 분석기술

국가기술지도분류

  • 기반주력산업 가치창출
  • 041600. 나노 소재/소자기술

녹색기술분류

  • 고효율화기술
  • 전력효율성 향상
  • 324. 전력 IT기술

6T분류

  • IT 분야
  • 핵심부품
  • 010114. 고밀도 정보저장장치 기술